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超聲波測厚儀

超聲波測厚儀根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精度測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

  • 產品型號：leeb332
  • 廠商性質：經銷商
  • 更新時間：2020-07-15
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產品詳情

   

超聲波測厚儀  

型號： leeb332 

儀器資料：  

工作原理

超聲波測厚儀根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精度測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

 

技術參數

 

項目名稱

Leeb332

示值誤差

±（1%H+0.1）mm H為被測物體實際厚度

測量范圍

0.75~350mm（鋼，由探頭決定，標配探頭范圍1~250mm）

顯示分辨率

0.01mm

聲速范圍

1000~9999m/s

存儲

2000組

使用環(huán)境

-10~60℃（非高溫探頭）  -10~300℃（高溫探頭）

PC通訊

有

電源

AA型堿性電池2節(jié)

工作時間

100小時

殼體材料

金屬外殼

外形尺寸

130*70*25 mm

重量

450g

標準配置

主機、L51探頭、堿性電池2節(jié)、耦合劑

可選配件

各類探頭、耦合劑、打印紙

 

 

探頭參數

類型型號名稱頻率（MHz）探頭直徑測量范圍小管徑特性描述
標準探頭L585P10/90510mm0.8～200 mm（鋼）Φ20mm×3.0mm常溫使用（＜60℃）
標準探頭L515P10510mm1.0～250 mm（鋼）Φ20mm×3.0mm常溫使用（＜60℃）
微徑探頭L777P676mm0.7～50 mm（鋼）Φ15mm×2.0mm薄壁及小弧面測量，
常溫使用（＜60℃）
粗晶探頭LZ2SZ2.5P222mm2.5～350 mm（鋼）Φ20mm鑄鐵等粗晶材質測量，
常溫使用（＜60℃）
高溫探頭LG5 514mm2～100 mm（鋼）Φ30mm可用于高溫度材料的測量
（＜300℃）
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